線掃描膜厚儀（離線型）

產品簡介
●全面高速高精度進行薄膜等面內膜厚不均一性檢測

●硬件&軟件均為創(chuàng)新設計

●作為專業(yè)膜厚測定廠商，提供多種支援

●實現高精度測量（已取得專zhuan利）

●實現高速測量（500萬點以上/分）

Name: 線掃描膜厚儀（離線型）
Brand: OTSUKA/日本大塚
Price: 面議 CNY
Availability: InStock

產品型號：

更新時間：2025-12-24

廠商性質：生產廠家

訪問量：1295

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產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

光譜系統(tǒng)

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產品信息

式樣

線掃描膜厚儀（離線型）

測量案例

250mm寬的薄膜案例

上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統(tǒng)。經過多年的發(fā)展，上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業(yè)內具有較高的知zhi名度和美譽度，客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場地位和影響力。

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